檢測(cè)內(nèi)容：儀表盤字符檢測(cè)
使用光源：環(huán)形光源
分析：使用環(huán)形光照射，儀表盤蓋表面會(huì)出現(xiàn)光斑，影響字符分離。
使用光源：平面無(wú)影光源
分析：使用平面無(wú)影光源均勻照射，可以避免表盤蓋的反光，減少背景雜點(diǎn)，
使用光源：
使用光源：平面無(wú)影光源